能量色散熒光光譜儀外觀專利證書

能量色散熒光光譜儀（EDXRF）是一種基于X射線熒光（XRF）分析原理的先進(jìn)儀器，能夠?qū)υ刂芷诒碇锈c（Na）至鈾（U）范圍內(nèi)的元素進(jìn)行快速、無損檢測。它通過智能真空系統(tǒng)有效激發(fā)輕元素（如Si、P、S、Al、Mg）和高含量元素（如Cr、Ni、Mo），從而實(shí)現(xiàn)精確分析。這使得EDXRF光譜儀在合金成分檢測、全元素分析以及RoHS有害物質(zhì)篩查等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。
EDXRF光譜儀的核心部件包括：
超薄窗X光管：產(chǎn)生高能X射線，激發(fā)樣品中的元素發(fā)出特征X射線。
FAST-SDD探測器：高靈敏度和高分辨率的探測器，能夠準(zhǔn)確測量特征X射線的能量和強(qiáng)度。
數(shù)字多道處理系統(tǒng)：將探測器信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。
這些核心部件協(xié)同工作，使得EDXRF光譜儀能夠?qū)崿F(xiàn)ppm級至99.99%濃度的定量分析，滿足不同應(yīng)用場景的需求。